pam-xiamen은 고품질의 갈륨 안티몬화물 (가스) 단결정 잉곳을 재배합니다. 우리는 또한 라운드, 톱질, 랩 및 광택 가스 웨이퍼를 보았고 epi-ready 표면 품질을 제공 할 수 있습니다. 가스 브 크리스털은 6n 순수 GA 및 SB 원소에 의해 형성된 화합물이며, epd \u0026 lt; 1000 cm-3. gasb 결정은 mbe 또는 mocvd 에피 택셜 성장에 적합한 전기적 파라미터 및 낮은 결함 밀도의 높은 균일 성을 갖는다. 우리는 정확한 또는 오프 오리 엔테이션, 낮은 또는 높은 도핑 된 농도와 좋은 표면 마무리에 넓은 선택과 함께 \"에피 준비\"휘발유 제품을 가지고 있습니다. 자세한 제품 정보는 당사에 문의하십시오. 1) 2 \", 3\"개스 웨이퍼 방향 : (100) ± 0.5 °...
샤먼 기반의 레이저 웨이퍼 성장 및 기타 관련 제품 및 서비스를위한 에피 서비스의 선도적 인 공급 업체 인 샤먼 파워 웨이 (Shi Maeng)는 2017 년에 3 \"크기의 새로운 가용성을 발표했다.이 신제품은 자연을 대표한다. ~에 더해서 팸족 의 제품 라인. 박사. shaka는 \"우리는 고객들에게 인터넷 광섬유 통신의 기본 능동 소자 (레이저 광원)를보다 잘 개발하고 신뢰할 수있는 많은 것을 포함하여 양자 우물 레이저 구조를 제공하게 된 것을 기쁘게 생각합니다. 우리의 레이저 다이오드 에피 택셜 구조는 탁월합니다 갈륨 아세 나이드 및 인듐 인화물 웨이퍼상의 양자 우물 레이저베이스, 양자 우물을 이용하는 레이저 및 이산 전자 모드는 모프 (move) 및 mbe 기술에 의해 제조되며 자외선에서 z 영역까...
매우 인장 변형이 심한 sub-monolayer ge nanostructures on 가스통 분자 빔 에피 택시 (molecular beam epitaxy)에 의해 성장되었고 초고 진공 주사 터널링 현미경에 의해 연구되었다. gasb에서 ge 나노 구조의 4 가지 적용 범위가 달성되고 조사된다. gasb에서 Ge의 성장이 2d 성장 모드를 따른다는 것을 알 수있다. 하위 단층의 결정 격자 GE 나노 구조물은 가스 나노 튜브의 응집력과 일관성이 있으며, 나노 구조물에서 7.74 %의 인장 변형을 추정한다. 출처 : iopscience 자세한 내용은 당사 웹 사이트를 방문하십시오 :www.semiconductorwafers.net , 이메일을 보내주십시오.angel.ye@powerwaywafer.com 또는po...
Te 도핑 된 GaSb 단결정은 홀 효과, 적외선 (IR) 전송 및 포토 루미 네 슨스 (PL) 스펙트럼을 측정하여 연구됩니다. Te 도핑 농도 및 전기적 보상의 임계 제어에 의해 IR 투과율이 n 형 GaSb가 60 %까지 높게 얻어지는 것을 알 수있다. 천연 수용체 - 관련 결함의 농도는 Te- 도핑 된 GaSb undoped하고 무겁게 Te 도핑 GaSb에 비해. 높은 IR 투과율에 대한 메커니즘은 결함 관련 광 흡수 공정을 고려하여 분석됩니다. 출처 : IOPscience 실리콘 질화물 결정 구조와 같은 우리의 제품에 관한 더 자세한 정보는, 플로트 존 웨이퍼 , 실리콘 카바이드 웨이퍼 우리의 웹 사이트를 방문하십시오 :www.semiconductorwafers.net , 이메일을 보내주십시오.ang...
X 선 지형 및 화학적 에칭 검사 Si : Ge 단결정 정확한 격자 파라미터 측정과 함께 1.2 at % 및 3.0 at % Ge를 함유하는 기판을 수행 하였다. Ge 원자의 불균일 한 분포로 인한 아마도 동심원 인 '준 원'(줄무늬)의 회절 콘트라스트가 투영 토포 그래프에서 관찰되었다. 에칭 패턴은 스트라이프 및 전위에 상응하는 밴드를 에치 피트로서 나타내었다. 중앙 '핵심'결정 영역 (줄무늬가없는)은 단면 형상 분석에서 결론 지은 바와 같이 미세 결함에 의해 크게 교란 된 결정 격자를 나타냈다. 격자 파라미터 측정은 분포의 불균일성을 보여 주었다. Ge 원자 샘플을 가로 질러 다른 최고의 기타 팸 - 하만 같은 제품 게르마늄 웨이퍼 , 에피 웨이퍼 , 에피 택셜 웨이퍼 환영합...
GaSb 박막 성장의 직교 실험 GaAs 기판 저압 금속 - 유기 화학 기상 증착 (LP-MOCVD) 시스템을 사용하여 설계 및 수행되었다. 제조 된 필름의 결정 성 및 미세 구조를 비교 분석하여 최적 성장 파라미터를 달성 하였다. 최적화 된 GaSb 박막은 (004) ω- 로킹 커브의 반치폭 (358 arc sec)이 좁고, 제곱 평균 제곱근 거칠기가 약 6 nm 인 매끄러운 표면을 가지며, 이는 헤테로 에피 택셜 단결정 막의 경우에 전형적이다. 또한 Raman 스펙트럼을 이용하여 GaSb 박막의 층 두께가 전위 밀도에 미치는 영향을 연구 하였다. 우리의 연구가 고결 정성 GaSb 박막 메인 스트림 성능의 전자 장치에서 제작 된 중 적외선 장치의 통합 확률을 높일 수 있습니다. 출처 : iopscience...
n형 및 p형 실리콘 웨이퍼의 공간 분해 도펀트 농도 [2.2] Nd 및 전기 저항률 ρ에 대한 비접촉식 비파괴 이미징 방법다양한 레이저 조사 강도에서 고정 캐리어그래피 이미지를 사용하는 것이 제시됩니다. 알려진 저항률을 가진 웨이퍼 사이트의 진폭 및 위상 정보를 사용하여 절대 캐리어 생성률을 정확하게 결정하기 위한 보정 계수를 도출했습니다. 도펀트 밀도 이미지를 추출하기 위해 포토캐리어 방사 측정 신호의 비선형 특성에 기반한 주파수 영역 모델을 사용했습니다. 이 방법론을 통해 얻은 n형 및 p형 웨이퍼의 저항률 측면 변화는 기존의 4점 프로브 측정으로 얻은 것과 매우 일치하는 것으로 나타났습니다. 이 모든 광학 비접촉식 방법은 도핑 밀도 및 전기 저항 측정과 넓은 반도체 영역에 대한 이미지를 위한 비파괴 ...
연락처 정보
luna@powerwaywafer.compowerwaymaterial@gmail.com 
+86-592-5601 404
