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금속 - 유기 기상 성장 법에 의한 다결정 다이아몬드상의 gan 에피 택셜 막의 성장

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금속 - 유기 기상 성장 법에 의한 다결정 다이아몬드상의 gan 에피 택셜 막의 성장

2018-08-01

열 추출은 종종 반도체 장치의 효율적인 성능을 보장하는데 필수적이며, 기능성 반도체 층과 임의의 히트 싱크 사이의 열 저항을 최소화 할 것을 요구한다. 이 보고서는 에피 택셜 성장 n 극의 간 영화 실리콘 기판 상에 다결정 다이아몬드를 증착하는 동안 형성된 SiXC 층을 사용하여 금속 - 유기 증기 상 에피 택시로 높은 열 전도성을 갖는 다결정 다이아몬드 기판 상에 형성된다. SiXC 층은 웨이퍼 스케일에서 단결정 막의 형성을위한 필요한 구조 주문 정보를 제공하도록 작용한다. 3 차원 섬 (3D) 성장 프로세스가 SiXC 층의 비 - 단결정 특성에 의해 유도 된 육각형 결함을 제거하는 것으로 나타났다. 또한 집중 성장 3d 성장 및 기판의 볼록한 만곡부의 도입이 간결한 층의 성장을 1.1㎛의 두께까지 가능하게하는 간 에피 택시의 인장 응력을 감소시키기 위해 전개 될 수 있음이 또한 보여진다. 트위스트 및 틸트는 각각 0.65 ° 및 0.39 °로 낮을 수 있으며, 유사한 구조를 갖는 Si 기판 상에 성장 된 갠 (gan)과 대체로 유사하다.


출처 : iopscience


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